XIAMEN POWERWAY ВЫДВИНУЛ МАТЕРИАЛЬНОЕ CO., LTD.

XIAMEN POWERWAY ADVANCED MATERIAL CO., LTD.

Manufacturer from China
Активный участник
6 лет
Главная / продукты / Silicon Wafer /

3" толщина 20-25μм слоя толщины 381±25µм субстрата вафли кремния эпитаксиальная/резистивность <0.018Ωкм Эпи

контакт
XIAMEN POWERWAY ВЫДВИНУЛ МАТЕРИАЛЬНОЕ CO., LTD.
Город:xiamen
Область/Штат:fujian
Страна/регион:china
контакт

3" толщина 20-25μм слоя толщины 381±25µм субстрата вафли кремния эпитаксиальная/резистивность <0.018Ωкм Эпи

Спросите последнюю цену
Место происхождения :Китай
Количество минимального заказа :1-10,000пкс
Термины компенсации :T/T
Способность поставкы :10 000 вафель/месяц
Срок поставки :5-50 рабочих дней
Название продукта :3" вафля кремния эпитаксиальная
марка :Повервай
Резистивность :<0>
Толщина слоя Эпи :20 - 25μм
Толщина :381 ± 25µм
Размер :12 "
more
контакт

Add to Cart

Найти похожие видео
Посмотреть описание продукта

3" толщина 381±25µм субстрата вафли кремния эпитаксиальная/резистивность <0>

 

Вафля кремния эпитаксиальная слой кремния одиночного кристалла депозированного на одиночную кристаллическую кремниевую пластину (примечание: она имеет в распоряжении вырасти слой поли кристаллического слоя кремния поверх сильно данной допинг в одиночку кристаллической кремниевой пластины, но для этого нужен амортизирующий слой (как окись или поли-Си) между субстратом Си большей части и верхним эпитаксиальным слоем)

Эпитаксиальному слою можно дать допинг, по мере того как он депозирован, к точной давая допинг концентрации пока продолжающ кристаллическое строение субстрата.

Резистивность эпислоя: <1 ohm-cm="" up="" to="" 150="" ohm-cm="">

Толщина эпислоя: < 1="" um="" up="" to="" 150="" um="">

Структура: Н/Н+, Н-/Н/Н+, Н/П/Н+, Н/Н+/П-, Н/П/П+, П/П+, П-/П/П+.

Применение вафли: Цифров, линейные, сила, МОС, приборы БиКМОС.

 

 

Наши преимущества с одного взгляда

1. Предварительные оборудование и испытательное оборудование роста эпитаксии.

2. Предложите самое высококачественное с низкой плотностью дефекта и хорошей шероховатостью поверхности.

3. Сильные поддержка и технологическая поддержка научно-исследовательской группы для наших клиентов

 

Вафля ПАМ-СИАМЭН эпитаксиальная обслуживает спецификации:

• Диаметры: 50мм, 75мм, 100мм, 125мм, 150мм

• Ориентация вафли: <100> <111>, <110>

• Толщина ЭПИ: 4μм до 150μм

• Допанц: Мышьяк, фосфор, бор

• Типичные ряды резистивности

• 0,05 до 1 200 ом-см

• 3000 до 5 000 ом-см (внутреннеприсущие слои)

 

 

3" ± 25µм толщины 381 субстрата вафли кремния эпитаксиальное/резистивность <0>

3" спецификация вафли кремния эпитаксиальная
Субстрат
Метод роста КЗ
Диаметр 76,2 +/- 0,5
Ориентация 111
С ориентации 3° - 4°
Тип/Допант Н/Сб (сурьма)
Резистивность <0>
Квартиры СЭМИ
Плоский, положение 110 +/- 2 градусов
Плоский, основной 22,22 +/- 3.17мм
Плоский, положение 45 +/- 5 градусов КВ от основного
Плоский, вторичный 11,18 +/- 1.52мм
Толщина 381 +/- 25µм
СМЫЧОК < 40="">
ИСКРИВЛЕНИЕ < 40="">
ТТВ < 10="">
Края СЭМИ округленный
Финиш Одиночная отполированная сторона
Задняя сторона Сложенный & вытравленный
Уплотнение задней стороны Полысиликон перенесенный массой
Задняя поли толщина 2µм
Эпитаксиальный слой
Тип/Допант Н/Фосфорус
Резистивность 7.5 - 10Ωкм
Толщина 20 - 25µм
Другие СЭМИ
Способ уплотнения прокладками епак

 

Что вафля кремния эпитаксиальная?

Вафли епи кремния сперва были начаты около 1966, и достигли коммерчески принятия началом 80-х. [5] методов для расти эпитаксиальный слой на монокрысталлине кремнии или других вафлях включают: различные типы низложения химического пара (CVD) расклассифицированного как КВД атмосферного давления (АПКВД) или низложение химического пара (MOCVD) металла органическое, так же, как эпитаксия молекулярного луча (MBE). Вызваны 2 «керфлесс» метода (без истирательного савинг) для отделять эпитаксиальный слой от субстрата «имплант-колют» и «усильте старт». Метод применимый когда эпислой и субстрат такой же материал использует вживление иона для того чтобы депозировать тонкий слой кристаллических атомов примеси и приводя механического стресса на точной глубине запланированной толщины слоя епи. Наведенный локализованный стресс обеспечивает контролируемый путь для великолепного распространения в следующем шаге расщепления. [7] в сухом процессе старта стресса применимом когда эпислой и субстрат подходяще различные материалы, контролируемый отказ управляется изменением температуры на интерфейсе епи/вафли чисто термальными стрессами должными к рассогласованию в тепловом расширении между слоем епи и субстратом, без необходимости для любых внешних механических силы или инструмента для помощи великолепного распространения. Было сообщено что этот процесс производит одиночное атомное плоское расщепление, уменьшая потребность для старта столба полируя, и позволяя множественным повторным пользованиям субстрата до 10 раз

 

Вы ищете кремниевая пластина?

ПАМ-СИАМЭН ваше идти-к месту для вафель полупроводника, включая кремниевые пластины, по мере того как мы делаем его на почти 30 лет! Отправьте нами дознание для того чтобы выучить больше о вафлях которые мы предлагаем и как мы можем помочь вам с вашим следующим проектом. Наша команда группы может дать вам технологическую поддержку. отправьте нами электронную почту на sales@powerwaywafer.com или powerwaymaterial@gmail.com

 

Запрос Корзина 0