1 - 2 из 2

Этап образца SEM

Пять осей горячая и холодная стадия SEM Контролируемая температура стадия внутри FIB / SEM

Пятиосевой крио/нагревательный столик для образцов СЭМ с неинвазивной интеграцией и температурным диапазоном -180℃~200℃ для FIB/SEM Название продукт.....

контакт

Add to Cart

Крио / Нагреваемая предметная столик для СЭМ, многорежимная предметная столик для микроскопа с неинвазивной интеграцией

GoGo SCH200 SEM пробная стадия с неинвазивной интеграцией, отличной защитой от EMI и диапазоном температуры от -190°C до 200°C Наименование продукта:....

контакт

Add to Cart

Этап образца SEM

Этап нагрева микроскопа

Стадия нагрева и охлаждения

Этап зондирования

Зондская станция

Предметный столик для микроскопа Пельтье

Стадия растяжения

Этап для образцов XRD

Этап образца SEM

Этап растяжения SEM

Оборудование для наблюдения за высокой температурой

Система тестирования на месте

Вафельный нагреватель

Этап образца SEM

Пять осей горячая и холодная стадия SEM Контролируемая температура стадия внутри FIB / SEM

Крио / Нагреваемая предметная столик для СЭМ, многорежимная предметная столик для микроскопа с неинвазивной интеграцией