Микроскоп измерения КС-6
Спецификация:
Микроскоп измерения широко использован для кристалла, рассмотрения интегральной схемаы (ИК) и точного измерения. Он поставлен с холодным светлым волокном отразил поляризовыванную систему иллюминатора, воображения и просмотра, отображающ система.
Спецификации
Оптически система воображения
------Инфинитивное оптически сыстам, фокусное расстояние 200мм объектива трубки
------ Трубка Тринокулар компенсации свободная, склоненная на 30°, расстояние 55-75мм Интерпупиллары
------Высокая точка и широкий окуляр ВФ10/22 поля
------Длинное расстояние деятельности, задачи 2С/0.055 Апо плана, 5С/0.14, 10С/0.28, 20С/0.29, 50С/0.42
------ Носепьесе кинтупле
Система регулировки фокуса
-----Коаксиальная система грубых & ребра фокуса регулировки, точное разделение 0.002мм
Этап
------ этап 6 слоев ″ ″ кс8 двойных механический, ряд 153кс204мм движения.
Трехмерная измерительная система
-------Разрешение: 1μм
-------Эксактитуде измерения: μм ± (2+Л/200)
------Повторно Эксактитуде ориентации: 2μм
Система освещения
-------Холодное светлое волокно отраженное Илльнминатор: 150В
--------Выполните геометрическое измерение (пункт, линию, круг, дугу етк.)
--------Введение в силу, регулировка рамки ссылки
--------Разнообразие дисплея: Преобразование языка, измерения и угла
