Xi'an Dehou Electronic Technology Co., Ltd.
Компания Xi'an Dehou Electronic Technology Co., Ltd.
Add to Cart
NYSP-Z23 24VDC Тип стержня RF-передатчик уровня допуска для электролитов и жидких интерфейсов
NYSP-Z23 24VDC Стержневой тип RF-передатчик уровня допуска Особенности конструкции
1Максимальный диапазон измерений до сотен метров.
2. Большое преимущество измерения интерфейса вязкого материала
3Стабильная и надежная производительность, устойчивая к воздействию летящего пепла, бланкирования, водяного пара, кристаллизации и воскообразования
4. без обслуживания: без подвижных или легко изношимых деталей, без необходимости частой очистки, обслуживания и отладки
NYSP-Z23 24VDC Стержневой тип RF-передатчик уровня допускаОбласти применения
1Продукты питания: соковые растения, молочные растения, резервуары для хранения томатной пасты, резервуары для хранения пивоваренных заводов и т.д.
2Фармацевтика: средние фармацевтические емкости для хранения, сепараторы, ферментационные емкости и т.д.
3Очистка воды: водоемы, водосборники, резервуары для очистки воды, водоемы, глубокие колодцы, сети питьевой воды и т.д.
4Другие: охрана окружающей среды, нефтяные месторождения, металлургия, судостроение и другие отрасли.
NYSP-Z23 24VDC Стержневой тип RF-передатчик уровня допускаТехнические параметры
| Модель продукта | NYSP-Z23 |
| Типичное применение |
Электролиты, жидкие интерфейсы и перемешанные жидкости |
| Тип зонды | Изолированный жесткий стержень |
| Диапазон измерений | 3 м, 20 м |
| Электрическое питание | 24VDC |
| Средняя температура | -100~+150°C |
| Соединение процесса |
1 БСПТ нить (стандартный) фланцустановка (необязательно) |
| Давление процесса | -0,1 ~ 2,5 МПа |
| Класс защиты | Устойчивость IP67 |
| Взрывостойкий класс | Exia II CT6 (необязательно) |
| Выходный сигнал | 4...20mA/HART/RS485/Modbus... |
| Электрический интерфейс | М20*1.5, 1⁄2 ′′NPT |
Примечание: продукты могут быть настроены в соответствии с конкретными требованиями пользователей.
NYSP-Z23 24VDC Стержневой тип RF-передатчик уровня допускаСвязанные фотографии