китай категории
Русский язык

Н печатает, субстрат ИнП (фосфида индия), 3", основная ранг - сложный полупроводник

Место происхождения:Китай
Количество минимального заказа:1-10,000пкс
Термины компенсации:T/T
Способность поставкы:10 000 вафель/месяц
Срок поставки:5-50 рабочих дней
Упаковывая детали:Упакованный в окружающей среде чистой комнаты класса 100, в одиночном контейнере, под атмосферой азо
контакт

Add to Cart

Активный участник
Xiamen Fujian China
Адрес: #506B, деловый центр Henghui, No.77, дорога Lingxia Nan, высокотехнологичная зона, Huli, Xiamen 361006, Китай
последний раз поставщика входа: в рамках 11 .
Информация о продукте Профиль Компании
Информация о продукте

Н печатает, субстрат ИнП (фосфида индия), 3", основная ранг - сложный полупроводник

 

ПАМ-СИАМЭН предлагает вафлю ИнП – фосфид индия которое растется ЛЭК (Кзокральски помещенным жидкостью) или ВГФ (вертикальным замораживанием градиента) как епи-готовая или механическая ранг с типом н, типом п или полу-изолировать в различной ориентации (111) или (100).

Фосфид индия (InP) бинарный полупроводник составленный индия и фосфора. Он имеет кристаллическую структуру гранецентрированной кубической решетки («сфалерита цинка "), идентичную к этому из ГаАс и большему части из полупроводников ИИИ-В. Фосфид индия можно подготовить от реакции иодида белого фосфора и индия [нужного пояснения] на 400 °К., [5] также сразу сочетанием из очищенные элементы на высокой температуре и давлении, или термическим распадом смеси смеси и фосфида индия триалкыл. ИнП использован в высокомощной и высокочастотной электронике [нужной цитации] из-за своей главной скорости электрона по отношению к более общим полупроводникам кремнию и арсениду галлия.

 

Н печатает, субстрат ИнП, 3", основная ранг

3" спецификация вафли ИнП   
ДетальСпецификации
Тип кондукцииН типаН типа
ДопантУндопедСера
Диаметр вафли3"
Ориентация вафли100±0.5°
Толщина вафли600±25ум
Основная плоская длина16±2мм
Вторичная плоская длина8±1мм
Концентрация несущей≤3кс1016км-3(0.8-6) кс1018км-3(0.6-6) кс1018км-3Н/А
Подвижность(3.5-4) кс103км2/В.с(1.5-3.5) кс103км2/В.с50-70км2/В.с>1000км2/В.с
РезистивностьН/АН/АН/А>0.5кс107Ω.км
ЭПД<1000cm>-2<500cm>-2<1x10>3км-2<5x10>3км-2
ТТВ<12um>
СМЫЧОК<12um>
ИСКРИВЛЕНИЕ<15um>
Маркировка лазерапо требованию
Финиш СуфасеП/Э, П/П
Эпи готовоеда
ПакетОдиночные контейнер или кассета вафли
 
 

 

Что вафля теста?

Большинств вафли теста вафли которые падали из основных спецификаций. Вафли теста могут быть использованы для бега марафонов, испытательного оборудования и для лидирующего НИОКР. Они часто рентабельная альтернатива для того чтобы воспламенить вафли.

 

Подвижность Халл электрона против температуры для различный давать допинг выравнивает.
Нижняя кривая - но=Нд-На=8·1017 км-3;
Средняя кривая - но=2·1015 км-3;
Верхняя кривая - но=3·1013 км-3.
(Разегхи и др. [1988]) и (  Валукиевич   и др. [1980]).
Подвижность Халл электрона против температуры (высоких температур):
Нижняя кривая - но=Нд-На~3·1017 км-3;
Средняя кривая - но~1.5·1016 км-3;
Верхняя кривая - но~3·1015 км-3.
(Галаванов и Сюкаэв [1970]).

Для слабо данного допинг н-ИнП на температурах близко к подвижности дрейфа электронов 300 к:

µн = (4.2÷5.4)·103·(300/Т) (км2В-1 с-1)

Подвижность Халл против концентрации электрона для различных коэффициентов компенсации.
θ = На/Нд, К. 77.
Штриховые кривые теоретические расчеты: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8;
(    Валукиевич и др. [1980]).
Сплошная линия значения середины наблюдаемые (    Андерсона и др. [1985]).
Подвижность Халл против концентрации электрона для различных коэффициентов компенсации
θ =На/Нд, К. 300.
Штриховые кривые теоретические расчеты: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8;
(    Валукиевич и др. [1980]).
Сплошная линия значения середины наблюдаемые (    Андерсона и др. [1985]).

Приблизительная формула для подвижности Халл электрона

Μ=ΜОХ/[1+ (Нд/107) 1/2],
где ΜОХ=5000 км2В-1 с-1,
Нд в км-3 (Хильсум [1974])

На 300 к, фактор рн≈1 Халл электрона в н-ИнП.
для Нд > 1015 км-3.

Продырявьте подвижность Халл против температуры для различных давая допинг уровней (Зн).
Концентрация отверстия на 300 к: 1. 1,75·1018 км-3; 2. 3,6·1017 км-3; 3. 4,4·1016 км-3.
θ=На/Нд~0.1.
(    Коханюк и др. [1988]).

Для слабо данного допинг п-ИнП на температуре близко к 300 к подвижность Халл

µпХ~150·(300/Т) 2,2 (км2В-1 с-1).

Подвижность Халл отверстия против плотности дырки, 300 к (Вилей [1975]).
Приблизительная формула для подвижности Халл отверстия:
µп=µпо/[1 + (На/2·1017) 1/2], где µпо~150 км2В-1 с-1, на в км-3

На 300 к, фактор отверстия в чистом п-ИнП: рп~1

 

Электронно-оптические применения

ИнП основал лазеры и СИД может испустить свет в очень широком ряде 1200 нм до µм 12. Этот свет использован для основанных волокном применений телекоммуникаций и Датаком во всех зонах дигитализированного мира. Свет также использован для воспринимать применения. На одной руке спектроскопические применения, где некоторая длина волны необходима для того чтобы взаимодействовать с делом для того чтобы обнаружить сильно разбавленные газы например. Электронно-оптическое терахэртц использовано в ультра-чувствительных спектроскопических анализаторах, измерениях толщины полимеров и для обнаружения разнослоистых покрытий в автомобильной промышленности. С другой стороны огромное преимущество специфических лазеров ИнП потому что они сейф глаза. Радиация поглощена в стекловатом теле человеческого глаза и не может повредить сетчатке. Лазеры ИнП в ЛиДАР (светлое обнаружение и выстраивать в ряд) будут ключевым компонентом для подвижности будущего и индустрии автоматизации.

 

Вы ищете вафля ИнП?

ПАМ-СИАМЭН ваше идти-к месту для всего вафли, включая вафли ИнП, по мере того как мы делаем его на почти 30 лет! Запросите нас сегодня для того чтобы выучить больше о вафлях которые мы предлагаем и как мы можем помочь вам с вашим следующим проектом. Наша команда группы смотрит вперед к обеспечивать и качественные продучты и превосходное обслуживание для вас!

 

China Н печатает, субстрат ИнП (фосфида индия), 3, основная ранг - сложный полупроводник supplier

Н печатает, субстрат ИнП (фосфида индия), 3", основная ранг - сложный полупроводник

Запрос Корзина 0