
Add to Cart
Микроскопический анализ поверхности
Микроскопический анализ поверхности
Поверхностный микроскопический анализ - это использование
микроскопов, сканирующих электронных микроскопов и электронных
микроскопов передачи для наблюдения за поверхностью, переломами,и
другие участки образца при высоком увеличенииНапример, морфология
поверхности, морфология перелома, металлографическая структура,
микроскопическая слойная структура и другие предметы испытания,
требующие наблюдения с высоким увеличением.
Лаборатория поверхностного микроскопического анализа
Диапазон применения
Электронные компоненты, автомобильная электроника, медицинская,
коммуникационная, мобильные телефоны, компьютеры, электрические и
т.д.
Функция и значение
Благодаря микроскопическому анализу морфологии материалов инженеры
могут эффективно предсказывать производительность материалов, чтобы
лучше оценить сферу применения и безопасный срок службы
материалов.В наши дни, с постоянным развитием науки и техники
методы анализа материалов также постоянно совершенствуются и
диверсифицируются.Исследователи могут исследовать микроскопический
мир материалов с помощью более сложных инструментов и передовых
технологий.
Применение поверхностного микроскопического анализа
1- обеспечивать наблюдение и анализ микроструктур поверхности и
поперечного сечения;
2. обеспечить точное измерение толщины пленки и маркировку для
образцов многослойной структуры;
3Пассивный контраст изображения (PVC) с помощью сканирования
электронного пучка с низким энергетическим уровнем может точно
определить повреждение компонентов с плохой утечкой или плохим
контактом и предоставить суждение о ненормальном анализе;
4. Образцы предоставляются с SEM для автоматической съемки и
сшивания цепи с помощью технологии удаления слоев (задержки),и
файлы изображения, полученные, могут быть вертикально связаны с
изображениями, полученными оптическим микроскопом, предоставляя
ссылку на обратную инженерию восстановления цепи.