Многофункциональный микроскоп атомной силы
Условия оплаты:T/T.
Номер модели:Atomedge Pro
Место происхождения:КИТАЙ
Минимальное количество заказа:1
Имя:Атомная силовая микроскопия АСМ
Метод сканирования:XYZ Трехо осевой
контакт
Add to Cart
Проверенные Поставщика
Qingdao Shandong China
Адрес:
169 Жучжоу Роуд, район Лаошань, Циндао, провинция Шаньдун, Китай
последний раз поставщика входа:
в рамках 1 .
Информация о продукте
Профиль Компании
Информация о продукте
Многофункциональный микроскоп атомной силы
Модель продукта:
AtomEdge Pro
Описание продукта:
Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как контактный.Кроме того, он интегрирует несколько функциональных режимов, таких как магнитно-силовая микроскопия,электростатическая силовая микроскопияКроме того, функциональные модули могут быть гибко настроены в соответствии с потребностями пользователя.предоставление целенаправленных решений для конкретных областей исследований и создание эффективной платформы обнаружения с несколькими применениями в одной машине.
Производительность оборудования:
| Размер выборки | 25 мм |
| Способ сканирования | XYZ трехосновое полное сканирование образца |
| Диапазон сканирования | 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм |
| Скорость сканирования | 0.1-30 Гц |
| Уровень шума в направлении XY | 0.4 нм |
| Уровень шума в направлении Z | 00,04 нм |
| Нелинейность | 0.15% в направлении xY и 1% в направлении Z |
| Изображение Точка отбора проб | Максимальное разрешение снимка сканирующего зонда 4096x4096 |
| Рабочий режим | Контактный режим, режим нажатия, режим фазовой визуализации, режим подъема, режим многонаправленного сканирования |
| Многофункциональный Измерение | Электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), магнитный силовой микроскоп (MFM), кривая силы |
Применение:
Титанат стронция (STO)
- Режим сканирования:режим нажатия
- Диапазон сканирования: 4 мм x 4 мкм
- Титановая пленка - алюминиевая титанатовая пленка
- Режим сканирования: микроскопия силовой пиезореакции (PFM)
- Диапазон сканирования: 10 μmx10 μm
- Тонкая пленка сульфида ванадия
- Режим сканирования: электростатическая силовая микроскопия (ЭФМ)
- Диапазон сканирования: 5 мкм х 5 мкм
- Тонкая пленка сульфида ванадия
- Режим сканирования: микроскопия силовых зондов Кельвина (KPFM)
- Диапазон сканирования: 5 мкм х 5 мкм
- Домен лабиринта и Skyrmions в стеке mTJ:SAF/MgO/[Ta/Co/Pt]9
- Режим сканирования: микроскопия магнитной силы (MFM)
- Диапазон сканирования: 10 мкм х 10 мкм
- Co/Pt тонкая пленка
- Режим сканирования: микроскопия магнитной силы (MFM)
- Диапазон сканирования: 30 мкм x 30 мкм
- Высокостационарный пиролитический графит (HOPG)
- Режим сканирования: Режим нажатия
- Дальность сканирования: .45 х 45
- Al2O3 Морфология усов
- Режим сканирования: Режим нажатия
- Диапазон сканирования: 15 мкм x 15 мкм
- Морфология полимера эпоксидной смолы
- Режим сканирования: Режим нажатия
- Диапазон сканирования: 7 мкм x 7 мкм
- Магнетизм с тонкой пленкой Pt-Co
- Режим сканирования: MFM (режим подъема)
- Диапазон сканирования: 5 мкм х 5 мкм
- Литий ниобат тонкая пленка
- Режим сканирования: микроскопия силовой пиезореакции (PFM)
- Диапазон сканирования: 35 мкм х 35 мкм
- Bacillus Immobilis
- Режим сканирования: Топографическое измерение
- Диапазон сканирования: 3 мкм х 3 мкм
Многофункциональный микроскоп атомной силы
Запрос Корзина
0