Задача расстояния деятельности металлургического микроскопа Тринокулар длинная
Номер модели:СДЖП-158ДЖ
Место происхождения:Китай
Количество минимального заказа:ОДИН ПК
Способность поставки:50ПКС/Монтх
Срок поставки:Согласно количеству заказа
Упаковывая детали:В случае и коробке стиропора
контакт
Add to Cart
Активный участник
Ningbo Zhejiang China
Адрес:
NO.58 WEST MAOCHENG ROAD ,YINZHOU DISTRICT,NINGBO 315192 CHINA
последний раз поставщика входа:
в рамках 48 .
Информация о продукте
Профиль Компании
Информация о продукте
Микроскоп СДЖП-158ДЖ металлургический
Микроскоп СДЖП-158ДЖ металлургический развит и направленный на индустрию полупроводника, производство вафли, электронная информационная индустрия, металлургическая промышленность, используемая как предварительный металлургический микроскоп, потребитель может испытать свое супер представление при использовании его. Его можно широко использовать для того чтобы определить и проанализировать полупроводник, ФПД, заключение цепи, субстрат цепи, материал, бросать/металл/керамические изделия, прессформы точности. Эта аппаратура принимает оба отражая и переданное освещение, поле Бригхт&Дарк, ДИК и поляризовывая замечание
может продолжать под отражать освещением, и яркое замечание поля сделано под переданным светом. Высококачественная и надежная оптическая система приносит гораздо яснее и гораздо острее изображение. Дизайн отвечает потребностямы эргономики и делает вас чувствовать удобным и расслабленным в делать вашу работу
Характеристики и описание
1. Примите Высоко-разрешение УИС, длинное расстояние деятельности, и путь безграничности светлый
исправлять технологию обработки изображения задачи системы
2. Расширять технологию передавать по мультиплексу объективной, совместимой безграничности
задача со всеми методами замечания, включая поле бригхт&дарк
замечание, поляризация и ДИК также обеспечивают с высоко ясным и острый
изображение в каждом методе замечания.
3. Асферическое поверхностное освещение Кохлер, увеличивая яркость просмотра.
4. Окуляр поля просмотра ВФ10× (Φ25) супер широкий, длинное расстояние деятельности
металлургическая задача с ярким и затемненным полем
5. Носепьесе можно оборудовать с отделяемым взаимодействием дифференциала ДИК
прибор.
| Спецификация | |
| Голова просмотра | Голова Тринокулар компенсации свободная, склонное 30° (50мм-75мм) |
| Окуляр | ВФ10×/25мм |
| ВФ10×/20мм, перекрестие с ретикуле 0.1мм | |
| Объективный | Длинные задачи поля Инфиниты.План бригхт&дарк расстояния деятельности: 5×/0.1Б.Д/В.Д.29.4мм, 10×/0.25Б.Д/В.Д.16мм, 20×/0.40Б.Д/В.Д.10.6мм, 40×/0.60Б.Д/В.Д.5.4мм, |
| Носепьесе | С Носепьесе ДИК Джека четырехшпиндельным |
| Этап | Этап двойного слоя механический |
| Размер этапа: 189мм×160мм | |
| Мовинг ряд: 80мм×50мм | |
| Фильтр | Тип фильтры Флашбоард (зеленый, голубой, нейтральный) |
| Конденсатор | Конденсатор Аббе Н.А.1.25 с диафрагмой и фильтром радужки |
| Фокусировать | Регулировка коаксиального грубого &фине фокусируя с механизмом механизма реечной передачи. Отлично фокусируя значение масштаба 0.002мм |
| Источник света | Освещение передачи: Шарик галоида 12В/50В, АК85В-230В, яркость регулируемая |
Эпи-освещение: С диафрагмой радужки апертуры и диафрагмой радужки поля, галоид Шарик 12В/50В, АК85В-230В, яркость регулируемая | |
| Поляризовывая прибор | Анализатор 360°ротатабле, и поляризатор и анализатор можно двинуть из светлого пути |
| Проверка инструмента | микрометр 0.01мм |
| Опционный аксессуар | Двухмерное программное обеспечение измерения |
| Профессиональное металлургическое программное обеспечение анализа изображения | |
| Эпи-освещение: Шарик галоида 12В/100В, АК85В-230В, яркость регулируемая | |
Длинное расстояние деятельности яркое & затемненное поле бесконечное Планобджективес: 50×/0.55Б.Д/В.Д.5.1мм, 80×/0.75Б.Д/В.Д.4мм, 100×/0.80Б.Д/В.Д.3мм | |
| окуляр микрометра | |
| 1.3Мега, 2,0 мега, 3,0 мега, 5,0 мега окуляра цифровой фотокамеры КМОС пикселов | |
| Переходник 0.5× ККД аттачментанд фотографии, 0.57×, 0.75× | |
| ДИК (10×, 20×, 40×, 100×) | |
| Шлихуя инструмент | |
| Камера ККД, красит линии 1/3 ТВ разрешения 520 ″ высокие | |
Задача расстояния деятельности металлургического микроскопа Тринокулар длинная
Запрос Корзина
0