Всесторонней камера испытательной системы флэш-памяти повсюду ускоренная ход температурой старея
Номер модели:HD-512-NAND
Место происхождения:Китай
Количество минимального заказа:1set
Условия оплаты:L/C, D/A, D/P, T/T, западное соединение, MoneyGram
Способность поставки:150 наборы/месяцев
Срок поставки:через 30 дней после заказа
контакт
Add to Cart
Проверенные Поставщика
Dongguan Guangdong China
Адрес:
Комната 105, здание F4, район f, город Tianan цифров, район Nancheng, город Dongguan, провинция Гуандун, Китай
последний раз поставщика входа:
в рамках 37 .
Информация о продукте
Профиль Компании
Информация о продукте
Всесторонней камера испытательной системы флэш-памяти повсюду ускоренная ход температурой старея
техническая характеристика изделия
Испытательная система HD-512-NAND обломока флэш-памяти умная всесторонняя испытательная система флэш-памяти которая может подгонять план теста и поддержать параллельное испытание различных типов частиц флэш-памяти. 64 типа, максимальное число испытания частиц флэш-памяти параллельно могут достигнуть 512.
Испытательная система YC-512-NAND обломока флэш-памяти умная поддерживает множественные телевизионные испытательные таблицы и изготовленные на заказ функции параметра теста, и может предусмотреть процесс теста одн-щелчка основной и высокопоставленный процесс теста с высокой гибкостью, не только может осуществить что оставшая жизнь частиц флэш-памяти, натурное измерение, удерживание данных и прочитать взаимодействие и другие функциональные тесты может также помочь потребителям проверить состояние надежности частиц флэш-памяти. После того как тест завершен, отчет по испытанию можно легко и быстро экспортировать с одним ключом, обеспечивая клиентов с самыми интуитивными и самыми точными графическими проверками данных. Обеспечьте самую интуитивную ссылку данных для классификации ранга и применения частиц флэш-памяти, и осуществите умную классификацию основанную на качественных результатах осмотра частиц флэш-памяти.
※ Основа теста исполняет со стойкой No.218 JEDEC: Полупроводниковые требования к привода ассоциации B-2016 технологии полупроводниковые (SSD) и длительное испытание Motho;
※ Основа теста исполняет с JEDEC стандартным No.47 NVCE: Квалификация полупроводниковой ассоциации технологии управляемая Стресс Тест интегральных схема;
※ Конструктивные требования доски для испытаний соотвествует окружающей среды температуры теста промышленн-степени;
Информация
| Внутренний размер коробки | W760×D400×H890mm |
| Наружный размер коробки | W1870×D890×H1830mm |
| том | 270L |
| Раскрывая метод | Одиночная дверь (правая раскройте) |
| охлаждая метод | с воздушным охлаждением |
| вес | о 950KG |
| электропитание | AC 380V около 7,5 KW |
Параметр температуры
| диапазон температур | -70℃~150℃ |
| Флуктуация температуры | ≤±0.5℃ ≤±1℃ |
| смещение температуры | ≤±2℃ |
| разрешение температуры | 0.01℃ |
| Тариф на отопление | 5℃/min (механический охлаждать, под стандартной нагрузкой) |
| тариф изменения температуры | Высокая температура может встретить нелинейное регулируемое 5℃~8℃/min (измеренный на выходе воздуха, механической рефрижерации, под стандартной нагрузкой), низкая температура может встретить 0℃~2℃/min нелинейное Регулируемый (измеренный на выходе воздуха, механический охлаждать, под нормальной нагрузкой) |
| единообразие температуры | ≤±2℃ |
| стандартная нагрузка | 10KG алюминиевый блок, нагрузка 500W; |
Стандарт теста
Испытательное оборудование температуры GB/T5170.2-2008
GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) методов AB теста низкой температуры.
GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) высокотемпературных БА метода теста.
(MIL-STD-810D) высокотемпературный метод теста GJBl50.3.
(MIL-STD-810D) метод теста низкой температуры GJBl50.4. |
Система управления
| Дисплей | Дисплей LCD цвета |
| Режим деятельности | Режим программы, режим фиксированного значения |
| Установка | Китайское и английское меню (опционное), входной сигнал экрана касания |
| Устанавливать ряд | Температура: Отрегулируйте согласно ряду деятельности температуры оборудования (верхнего предела +5°C, нижнего предела -5°C) |
разрешение дисплея | Температура: 0.01°C Время: 0.01min |
метод контроля | BTC сбалансировало метод контроля температуры + DCC (умный охлаждая контроль) + DEC (умный электрический контроль) (испытательное оборудование температуры) BTHC сбалансировало температуру и метод управлением влажности + DCC (умный охлаждая контроль) + DEC (умный электрический контроль) (испытательное оборудование температуры и влажности) |
Функция показателя кривой | Оно имеет RAM с предохранением от батареи, которое может сохранить установленное значение, пробуя значение и пробуя время прибора; максимальное время записи 350 дней (когда пробуя период 1.5min) |
Вспомогательная функция | Ошибитесь сигнал тревоги и причина, обрабатывая проворную функцию Функция предохранения от выключения Функция предохранения от температуры верхнего и нижнего предела Функцияа времени календаря (автоматическая деятельность начала и автоматического ограничителя) функция самодиагностирования |
Всесторонней камера испытательной системы флэш-памяти повсюду ускоренная ход температурой старея
Запрос Корзина
0