Оптически + атомный микроскоп силы, неразъемный

◆Интегрированный дизайн оптически metallographic микроскопа и атомного микроскопа силы, сильных функций

◆Оно имеет и оптически микроскоп и атомный микроскоп силы отображая функции, оба из которых могут работать в то же время без влияния одина другого

◆В то же время, оно имеет функции оптически 2D измерения и атомного измерения микроскопа 3D силы

• ◆Интегрированы голова обнаружения лазера и этап сканирования образца, структура очень стабилизирована, и противоинтерференционное сильно

  ◆Прибор зонда точности располагая, регулировка выравнивания пятна лазера очень легок

• ◆Образец привода одно-оси автоматически причаливает зонду вертикально, так, что подсказка иглы будет перпендикулярна к развертке образца

  ◆Метод умной иглы питаясь контролируемого мотор надутого пьезоэлектрического керамического автоматического обнаружения защищает зонд и образец

• ◆Система позиционирования ультравысокого увеличения оптически для того чтобы достигнуть точный располагать зоны сканирования зонда и образца

  ◆Интегрированный редактор потребителя коррекции блока развертки нелинейный, нанометр

• Спецификация	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Режим работы	Выстукивая режим [Опционный] Режим контакта Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим	Режим контакта Выстукивая режим [Опционный] Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим	Режим контакта Выстукивая режим [Опционный] Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим	Режим контакта Выстукивая режим [Опционный] Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим
  Настоящая кривая спектра	Кривая RMS-Z [Опционный] Кривая силы F-Z	Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z	Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z	Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z
  XY ряд развертки	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  XY разрешение развертки	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Ряд развертки z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Разрешение развертки y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Скорость развертки	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Угол развертки	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Размер выборки	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  XY двигать этапа	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Удар-поглощая дизайн	Подвес весны	Подвес весны Металл защищая коробку	Подвес весны Металл защищая коробку	-
  Оптически Syestem	задача 4x Разрешение 2.5um	задача 4x Разрешение 2.5um	задача 10x Разрешение 1um	Окуляр 10x План LWD APO 5x10x20x50x безграничности цифровая фотокамера 5.0M 10" монитор LCD, с измерять Освещение СИД Kohler Коаксиальный грубый & точный фокусировать
  Выход	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Программное обеспечение	Выигрыш XP/7/8/10	Выигрыш XP/7/8/10	Выигрыш XP/7/8/10	Выигрыш XP/7/8/10

• Микроскоп	Оптически микроскоп	Электронный кинескоп	Просматривая микроскоп зонда
  Максимальное разрешение (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Примечание	Погружение 1500x масла	Отображать атомы углерода диаманта	Отображать атомы углерода высоко-заказа графитообразные

• Взаимодействие Зонд-образца	Сигнал измерения	Информация
  Сила	Сила электростатического поля	Форма
  Течение тоннеля	Настоящий	Форма, проводимость
  Магнитная сила	Участок	Магнитная структура
  Сила электростатического поля	Участок	распределение заряда

• 	Разрешение	Условия труда	Работая Temperation	Damge, который нужно попробовать	Глубина осмотра
  SPM	Уровень 0.1nm атома	Нормальный, жидкостный, вакуум	Комната или низкое Temperation	Никакие	Уровень 1~2 атомов
  TEM	Пункт 0.3~0.5nm Решетка 0.1~0.2nm	Глубокий вакуум	Комната Temperation	Небольшой	Обычно <100nm>
  SEM	6-10nm	Глубокий вакуум	Комната Temperation	Небольшой	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Уровень 0.1nm атома	Супер глубокий вакуум	30~80K	Damge	Толщина атома

•  
•  

•