Частица T764.2 Asme v магнитная испытывая круговой искусственный планшет чувствительности паза
Место происхождения:Пекин
Количество минимального заказа:10PCS
Условия оплаты:T/T, PayPal, западное соединение
Способность поставки:500pcs в месяц
Срок поставки:1-4days
Упаковывая детали:стандартный пакет экспорта
контакт
Add to Cart
Проверенные Поставщика
Beijing Beijing
Адрес:
7-й этаж, Чэньюань B Строительство, Mid. Дорога Jiancaicheng Хайдянь Dist.BeiJing, Китай 100096
последний раз поставщика входа:
в рамках 48 .
Информация о продукте
Профиль Компании
Информация о продукте
Планшет теста чувствительности магнитной частицы образца теста кругового искусственного паза T764.2 ASME v магнитный
планшет теста чувствительности магнитной частицы 1.Type A1
1,1 распечатки результатов испытаний сделаны согласно требованиям
ТИПА A1 (после обжигая обработки) в GB/T23906, JB/T4730-2005 и
JB/T6065-2004, «распечатки результатов испытаний для магнитного
порошка испытывая в испытании без разрушения».
1,2 эта часть теста использована для проверки направления и
величины интенсивности магнитного поля на поверхности workpiece и
всестороннем характеристике рабочом испытания магнитной частицы.
2. Поддерживая компоненты и спецификации
2,1 эта распечатка результатов испытаний включает 6 спецификаций:
A1-7/50, A1-15/50, A1-30/50, A1-15/100, A-30/100 и A-60/100.
2,2 спецификация размера части теста и соответствуя интенсивности
магнитного поля
Толщина образца: 50±5μm и 100±10μm
Длина края части теста: 20±1㎜
Круговой искусственный диаметр паза: 10±0.5㎜
Перекрестная искусственная длина слота: 6±0.3㎜
Μm глубины паза датчика искусственное соответствует магнитному полю
спецификации и соответствовать замагничивания чувствительности
интенсивность окружному
Чувствительность A1 7/50±1.0μm высокая (11-12) D3520 | 3840A/m
(44-48 Oe)
Чувствительность A1 15/50±2.0μm (8 | 9) D2560-2880A /m (32 | 36 Oe)
Чувствительность A1 30/50±4.0μm низкая (5 | 6) D1600-1920A /m (20 |
24 Oe)
Чувствительность A1 15/100±2.0μm высокая (11-12) D3520 | 3840A/m
(44-48 Oe)
Чувствительность A1 30/100±4.0μm (8 | 9) D2560 | 2880A/m (32 | 36
Oe)
Чувствительность A1 60/100±8.0μm низкая (5 | 6) D1600-1920A /m
(20-24 Oe)
Искусственная ширина паза: 60 | 180μm
※ Прочность окружного магнитного поля спецификации и
соответствовать замагничивания в таблице результаты теста
нормализованного стального образца 45 для ссылки.
3. Метод пользы
3,1 согласно потребности чувствительности обнаружения рванины,
выберите тип часть теста соотвествующих спецификаций.
3,2 поверхность workpiece должна быть плоска и ровна, выпуклое или
вогнутое неровное; Попробует момент с искусственной стороной паза
вниз, с хорошей бумагой клейкой ленты от совсем вокруг ее и
workpiece близко. Примечание: При вставке, лента не должна покрыть
прорезанную часть на задней части части теста; Все стороны должны
быть плотно прилегающее, там могут быть никаким снуя явлением
(особенно на поверхности вала).
3,3 образца с workpiece могут быть как образцы проверки качества
осмотра магнитной частицы, в начале рабочего класса день для
проверки представления магнитной системы всестороннего, как
магнитный показ изображения, после того как образцы управляли вне
совместной плохой причиной, анализом своя причина (магнитные
подвес, технологическое оборудование, etc.) и принять соответствуя
измерения разрешить, магнитный осмотр обеспечить качество.
3,4 часть теста сделана из чистого листа утюга, который должен быть
предотвращен от сморщивать при использовании, покрытый с
антиржавейным тавотом после пользы, и как следует держал (тавот
должен быть помыт прочь перед использованием).
3,5 если образец сморщен, то сломленный и вытравленный, он повлияет
на влияние пользы и не должен быть использован снова.
ТИП A1
ТИП C
ТИП D
ТИП M1
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
| Описание | Тип A1 | Тип d | Тип c | Тип M1 | ||
| Толщина образца (um) | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
| Длина образца (mm) | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
| Ширина образца (mm) | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±5 | 20±1 | |
| Отрезка правило (mm) | 5±0.5 | |||||
| Искусственный круглый диаметр паза (mm) | Высокое разрешение | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | 12 | |
| Среднее разрешение | 9 | |||||
| Низкое разрешение | 6 | |||||
| Искусственная длина поперечной канавки (mm) | Высокое разрешение | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | ||
| Среднее разрешение | ||||||
| Низкое разрешение | ||||||
| Искусственная глубина паза (um) | Высокое разрешение | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| Среднее разрешение | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
| Низкое разрешение | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
| Искусственная ширина паза (um) | 60-180 | |||||
Блок теста MT
Тип N1: 45N, 5kgs
Тип N2: 118N 12kgs
Тип N3: 177N 18kgs
Блок MT стандартный
Тип b Katos неправильный: DC HRC=90~95, 12 сверля до диаметр отверстий 0.07inch, диаметр центрового отверстия 31.8mm
Тип e: AC
Частица T764.2 Asme v магнитная испытывая круговой искусственный планшет чувствительности паза
Запрос Корзина
0