продукты
Поставщики
Sign in
Register
Группа ZEIT
Pursuing Excellence without Limits!
Manufacturer from China
Активный участник
4 лет
Главная
продукты.
Профиль Компании
Контроль качества
Свяжитесь с нами
Запрос цены:
Русский язык
English
Français
Español
日本語
Português
Оптически оборудование для нанесения покрытия (8)
Оптически оборудование для испытаний (8)
Субстрат Photomask (8)
Доводочный станок Magnetorheological (6)
Оптически элементы (56)
Атомное оборудование низложения слоя (11)
Магнетрон брызгая лакировочная машина (10)
Аппаратура обнаружения поверхностного дефекта (5)
Измерительная система двойного лучепреломления (10)
Оборудование осмотра плоскостности (3)
Поверхностное оборудование осмотра (4)
Не стандартное оборудование (3)
Автоматизированные решения производственной линии (2)
Система интерферометра лазера (9)
Цифров Autocollimator (4)
Объектив интерферометра (2)
Главная
/
продукты
/
Аппаратура обнаружения поверхностного дефекта
Категории продукта
Оптически оборудование для нанесения покрытия
[8]
Оптически оборудование для испытаний
[8]
Субстрат Photomask
[8]
Доводочный станок Magnetorheological
[6]
Оптически элементы
[56]
Атомное оборудование низложения слоя
[11]
Магнетрон брызгая лакировочная машина
[10]
Аппаратура обнаружения поверхностного дефекта
[5]
Измерительная система двойного лучепреломления
[10]
Оборудование осмотра плоскостности
[3]
Поверхностное оборудование осмотра
[4]
Не стандартное оборудование
[3]
Автоматизированные решения производственной линии
[2]
Система интерферометра лазера
[9]
Цифров Autocollimator
[4]
Объектив интерферометра
[2]
контакт
Группа ZEIT
Город:
chengdu
Область/Штат:
sichuan
Страна/регион:
china
Контактное лицо:
MsTyra
контактная информация
контакт
1 - 5 из 5
Аппаратура обнаружения поверхностного дефекта
Оборудование для обнаружения дефектов поверхности стеклянной подложки 1.8um
Стеклянный детектор поверхностного дефекта субстрата Применения Для управления управления производственным процессом и выхода стеклянного пр......
контакт
Add to Cart
Царапины Пылезащитная маска Оборудование для обнаружения дефектов поверхности подложки OEM
Пустой детектор поверхностного дефекта субстрата маски Применения Для управления управления производственным процессом и выхода пустого прои......
контакт
Add to Cart
Увеличение 40x оборудования обнаружения дефекта поверхности панели дисплея
Панель дисплея Детектор поверхностных дефектов Приложения Для контроля процесса и управления выходом производства панелей дисплея мы......
контакт
Add to Cart
Оборудование обнаружения поверхностного дефекта осмотра пыли царапин в индустрии микросхемы ИК
Детектор поверхностных дефектов в производстве интегральных схем Приложения Для контроля процесса и управления выпуском пустой маски......
контакт
Add to Cart
Оборудование обнаружения поверхностного дефекта оси ОЭМ кс ы 2 в полупроводниковой промышленности
Детектор поверхностных дефектов в полупроводниковой промышленности Приложения Для контроля процесса и управления выпуском пустой мас......
контакт
Add to Cart
Запрос Корзина
0
Выбрать все
контакт