продукты
Поставщики
Sign in
Register
Группа ZEIT
Pursuing Excellence without Limits!
Manufacturer from China
Активный участник
4 лет
Главная
продукты.
Профиль Компании
Контроль качества
Свяжитесь с нами
просят квоту
Русский язык
English
Français
Español
日本語
Português
Оптически оборудование для нанесения покрытия (8)
Оптически оборудование для испытаний (8)
Субстрат Photomask (8)
Доводочный станок Magnetorheological (6)
Оптически элементы (56)
Атомное оборудование низложения слоя (11)
Магнетрон брызгая лакировочная машина (10)
Аппаратура обнаружения поверхностного дефекта (5)
Измерительная система двойного лучепреломления (10)
Оборудование осмотра плоскостности (3)
Поверхностное оборудование осмотра (4)
Не стандартное оборудование (3)
Автоматизированные решения производственной линии (2)
Система интерферометра лазера (9)
Цифров Autocollimator (4)
Объектив интерферометра (2)
Главная
/
продукты
/
Оптически оборудование для испытаний
Категории продукта
Оптически оборудование для нанесения покрытия
[8]
Оптически оборудование для испытаний
[8]
Субстрат Photomask
[8]
Доводочный станок Magnetorheological
[6]
Оптически элементы
[56]
Атомное оборудование низложения слоя
[11]
Магнетрон брызгая лакировочная машина
[10]
Аппаратура обнаружения поверхностного дефекта
[5]
Измерительная система двойного лучепреломления
[10]
Оборудование осмотра плоскостности
[3]
Поверхностное оборудование осмотра
[4]
Не стандартное оборудование
[3]
Автоматизированные решения производственной линии
[2]
Система интерферометра лазера
[9]
Цифров Autocollimator
[4]
Объектив интерферометра
[2]
контакт
Группа ZEIT
Город:
chengdu
Область/Штат:
sichuan
Страна/регион:
china
Контактное лицо:
MsTyra
контактная информация
контакт
1 - 8 из 8
Оптически оборудование для испытаний
Тестер плоскостности оборудования для испытаний оптически длины волны 633 Нм оптически
Тестер плоскостности высокой точности Применения Для испытания плоскостности высокоточного компонентов металла, мрамора и других герметизиру......
контакт
Add to Cart
Оборудование для испытаний 40x систем детектора поверхности полупроводника оптически
Систем детектора полупроводника оборудование для испытаний 40x поверхностных оптически Применения Для управления управления производственным......
контакт
Add to Cart
Царапает разрешение 1.8μM оборудования обнаружения поверхности полупроводника пыли
Царапины пылятся детектор 1.8μM оптически полупроводника оборудования для испытаний поверхностный ПримененияДля управления управления производственны....
контакт
Add to Cart
Оборудование для измерения двойного лучепреломления в режиме реального времени
Аппаратура обнаружения в реальном времени двойного лучепреломления стресса Применения Ультрафиолетовый-ультрафиолетов По......
контакт
Add to Cart
VIS 520nm 590nm 650nm Оборудование для измерения двойного лучепреломления
Реальное время оборудования для испытаний измерительной системы двойного лучепреломления величины стресса оптически Применения У......
контакт
Add to Cart
Оборудование для оптических испытаний ZEIT Форма рефлектора лампы Плоскостность пластин Обнаружение дефектов поверхности
Структурная светлая крупноразмерная поверхностная аппаратура обнаружения формы Применения Обнаружение формы рефлектора лампы; обнаружение пл......
контакт
Add to Cart
Детектор поверхности полупроводника 1.8μМ оборудования для испытаний пыли царапин оптически
Детектор поверхностного дефекта полупроводника материальный Применения Для управления управления производственным процессом и выхода пустой......
контакт
Add to Cart
Оборудование для испытаний системы измерения двойного лучепреломления магнитуды напряжения в режиме реального времени
Аппаратура обнаружения в реальном времени двойного лучепреломления стресса Применения Ультрафиолетовый-ультрафиолетов По......
контакт
Add to Cart
Запрос Корзина
0
Выбрать все
контакт