Группа ZEIT
Pursuing Excellence without Limits！
Add to Cart
Структурная светлая крупноразмерная поверхностная аппаратура обнаружения формы
Применения
Обнаружение формы рефлектора лампы; обнаружение плоскостности вафли; обнаружение поверхности краски автомобиля; обнаружение формы поверхности объектива.
Принцип деятельности
Дисплей проектирует составленный свет в форме нашивки, и камера собирает составленный свет от измеренное
поверхность, собранная нашивка деформирована через модуляцию измеренной поверхности, распределения облака пункта
и распределение погнутости измеренной поверхности высчитано согласно деформации нашивки, тогда
поверхностное распределение ошибки формы может быть получено путем сравнивать распределение облака пункта с идеальной моделью.
Особенности
| Модель | SI200-150 |
| Измеряя ряд | 200×150mm2 |
| Поперечное разрешение | Обычные 0.25mm, регулируемый |
| Измеряя точность | Абсолютная ошибка: ±3μm (100mm в диаметре) |
| Примечание: Подгонянная продукция доступная. | |
Изображение обнаружения
Наши преимущества
Мы изготовитель.
Зрелый процесс.
Ответ не позднее 24 рабочие часы.
Наша аттестация ISO
Части наших патентов
Части наших наград и квалификации НИОКР