Hai Da Labtester

КО. оборудования Хайда международное, ЛТД

Manufacturer from China
Проверенные Поставщика
11 лет
Главная / продукты / Lab Test Machines /

Чип флэш-памяти Интеллектуальное испытательное оборудование компактный размер

контакт
Hai Da Labtester
Посетите вебсайт
Город:dongguan
Область/Штат:guangdong
Страна/регион:china
Контактное лицо:MissLisa
контакт

Чип флэш-памяти Интеллектуальное испытательное оборудование компактный размер

Спросите последнюю цену
Номер модели :HD-N8-NAND
Место происхождения :Китай
Количество минимального заказа :1set
Условия оплаты :L/C, D/A, D/P, T/T, западное соединение, MoneyGram
Способность поставки :150 наборы/месяцев
Срок поставки :Через 8 дней после заказа
Упаковывая детали :Сильный деревянный случай
Температурная амплитуда рабочей температуры :-30ºC~150ºC
Диапазон температур хранения :-20ºC~60ºC
Работая ряд влажности :45%~75%
Размер оборудования :W400×H510×D520mm
more
контакт

Add to Cart

Найти похожие видео
Посмотреть описание продукта

Интеллектуальная система тестирования микросхем флэш-памяти

Описание продукта:

  1. Интеллектуальная тестовая система YC-N8-NAND представляет собой комплексную систему тестирования флэш-памяти, которую можно настроить для параллельного тестирования до 8 флэш-частиц.
  2. Он поддерживает широкий спектр тестовых шаблонов и настраиваемых параметров тестирования.Он обеспечивает базовый поток тестирования одним щелчком мыши, очень гибкий экспериментальный тест и расширенный поток тестирования, а также может обеспечивать базовый поток тестирования одним щелчком мыши, очень гибкий экспериментальный тест и расширенный поток тестирования, который может реализовывать различные функциональные тесты, такие как оставшийся срок службы. предсказание, реальный тест, сохранение данных и нарушение чтения частиц флэш-памяти.Отчет о тестировании можно быстро и легко экспортировать после завершения теста.Он предоставляет наиболее интуитивно понятные графические данные испытаний, чтобы обеспечить наиболее точную ссылку для классификации и применения вспыхивающих частиц.Он также обеспечивает наиболее точную справочную информацию по классификации и применению взвешенных частиц и обеспечивает интеллектуальную классификацию на основе результатов проверки качества взвешенных частиц.


Характеристики продукта:

  1. Протестировано на стенде JEDEC № 218: Ассоциация твердотельных технологий B-2016 Требования к твердотельным накопителям (SSD) и испытания на выносливость Motho;
  2. Основа тестирования в соответствии со стандартом JEDEC № 47 NVCE: Квалификация интегральных схем, проводимая стресс-тестами Ассоциации твердотельных технологий;
  3. Спецификации конструкции испытательной платы для соответствия требованиям к температуре окружающей среды для испытаний промышленного класса;


Технические характеристики:

Физические свойства
Размер оборудования Ш400×В510×Г520мм
Способ питания переменный ток
Диапазон рабочего напряжения AC(220±10%)V однофазный 2-проводной + защитное заземление
Нормальное рабочее энергопотребление 2кВт
Диапазон рабочих температур -30ºC~150ºC
Диапазон температур хранения -20ºC~60ºC
Диапазон рабочей влажности 45%~75%
Производительность системы
Количество частиц, которые можно тестировать параллельно 1~8 шт.
Поддерживаемые бренды флэш-памяти для тестирования SLC, MLC, TLC, Sandisk и т. д. от Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, Sandisk и т. д., чипы NAND Flash типа QLC (диапазон расширяется)
Поддерживаемые размеры пакетов BGA152, BGA132 (доступны специальные расширения)
Поддерживаемые типы протоколов флэш-памяти ONFI/переключить частицы интерфейса
Поддерживаемое напряжение Аппаратная поддержка V1.2, V1.8 опционально
Поддерживаемый диапазон снижения напряжения Программная поддержка может быть настроена vcc2.3~3.6
vccq1.2 1,15~1,25
vccq1.8 1,70~1,95
Поддерживает дополнительные диапазоны испытаний Индивидуальные настройки количества пусковых блоков, интервала между блоками, количества циклов, времени тестирования и т. д.
Шаблон поддержки Все 0, все 1, все 5, псевдослучайное, шахматная сетка, случайная строка слов и т. д.
Поддержка типов тестовых команд Проверка информации о флэш-памяти
Тестирование производительности флэш-памяти
Жизненное тестирование и предсказание
Классификация класса качества
Тестирование интерференции данных
Тестирование хранения данных
Функция чтения-повторения
Жизненное тестирование и прогнозирование
Настройка ЕСС
Скорость параллельного тестирования В качестве примера базового теста на долгоживущие пеллеты Веллингтона:
Сбалансированный режим: 128 ГБ * 8 гранул прибл.1 час
Полный режим: 128 ГБ * 8 гранул прибл.2 часа
Высокоскоростной режим: 128 ГБ * 8 гранул прибл.20 минут
Интеллектуальный тестовый модуль Основные тесты
Экспериментальные тесты
Расширенные тесты


Введение нашей компании:
HAIDA INTERNATIONAL является профессиональным производителем различного испытательного оборудования более 24 лет.Продукты HAIDA широко используются в бумажных изделиях, упаковке, чернильной печати, клейких лентах, сумках, обуви, кожаных изделиях, окружающей среде, игрушках, детских товарах, оборудовании, электронных продуктах, пластиковых изделиях, резиновых изделиях и других отраслях промышленности и применимы ко всем научным исследовательские подразделения, институты контроля качества и академические области.

Чип флэш-памяти Интеллектуальное испытательное оборудование компактный размер

Запрос Корзина 0