Dongguan Quality Control Technology Co., Ltd.
Мы делаем проверку качества легкий!
Add to Cart
Параллельные оптические стерео-зум микроскопы с 8x до 50x и тринукулярной головой
Загрузка технических данных:iqualitrol Стерео микроскоп iStereo-120
Особенности:
◆ iStereo-120 (бинокль) и iStereo-120T ((тринокль);
◆ Параллельная оптическая система, диапазон увеличения тела зума: 0,8X ~ 5X;
◆ Ортоскопическое изображение, большая глубина поля зрения, большое рабочее расстояние, доступное для установки различных аксессуаров;
◆ Широко используется в научных исследованиях, современной биологии, медицине, окружающей среде, сельском хозяйстве, полиции, микроэлектронике, полупроводниках и т.д., которые требуют высокой точности.
Дизайн параллельной оптики обеспечивает лучшую, более быструю и надежную идентификацию и измерения образцов.Система параллельно-оптических линз предоставляет пользователям изображение с чрезвычайно высоким разрешением и большой глубиной поля, которая избегает искажений или аберраций..
Технические данные:
| Драйвер масштабирования | Параллельная оптическая система, 0,8X ~ 5X непрерывное увеличение тела |
| Увеличение | Стандартное общее увеличение: 8X ~ 50X, максимальное увеличение: 225X. |
| Очки | Высокая точка зрения и широкополосные окуляры ((10X,Φ22мм). |
| Цель | 1X Цель самолета |
| WD | 91 мм |
| Диапазон регулировки интерпупиллярного расстояния (10X окуляр) | 52 мм ~ 76 мм |
| Диаптерный диапазон регулирования | ± 6 диоптров |
| Диапазон фокусировки | 50 мм ((Подъемник рельсов: 100 мм) |
| Бинокулярные глазные трубы | Наклон 45° |
| Размеры держателя и головки | Φ76 мм |
| Расстояние между центром столба и центром держателя | 140 мм |
| Диаметр столба | Φ25 мм |
| Диаметр центральной рабочей ступени | Φ95 мм |
| Очки | Положение | Определение различных вспомогательных целей | |||
| 0.5X | 0.7X | 1X | 1.5X(Помощник) | ||
| 10X | Общий магнитуд. | 4X ~ 25X | 5.6X ~ 35X | 8X~50X | 12X~75X |
| ПОВ ((мм) | Φ55 ~ Φ8.8 | Φ39.3 ~ Φ6.3 | Φ27.5 ~ Φ4.4 | Φ18.33 ~ Φ2.93 | |
| 15X | Общий магнитуд. | 6X~37,5X | 8.4X~52.5X | 12X~75X | 18X ~ 112,5X |
| ПОВ ((мм) | Φ42,5 ~ Φ6.8 | Φ30.36 ~ Φ4.86 | Φ21.25 ~ Φ3.4 | Φ14.17 ~ Φ2.27 | |
| 20X | Общий магнитуд. | 8X~50X | 11.2X~70X | 16X~100X | 24X ~ 150X |
| ПОВ ((мм) | Φ35 ~ Φ5.6 | Φ25 ~ Φ4 | Φ17.5 ~ Φ2.8 | Φ11.67 ~ Φ1.87 | |
| 30X | Общий магнитуд. | 12X~75X | 16.8X~105X | 24X ~ 150X | 36X ~ 225X |
| ПОВ ((мм) | Φ22,5 ~ Φ3.6 | Φ16.1 ~ Φ2.57 | Φ11.25 ~ Φ1.8 | Φ7,5 ~ Φ1.2 | |
| WD ((mm) | 186 | 135 | 91 | 40 | |
Примечания:
1Пожалуйста, используйте 1X плоскость объектива вместе, когда используете 1,5X вспомогательный объект.
2При применении вспомогательного объектива с увеличением 0,5 раз или ниже, не могут использоваться подъемники.
Особенности аксессуаров:
1,Цели
◆ 0,5-кратный акроматический объектив PS-W0.5, рабочее расстояние: 186 мм
◆ 0,7X ахроматический объект PS-W0.7, рабочее расстояние: 135 мм
◆ 1X плоскость ахроматического объектива PS-WP1.0Рабочее расстояние: 91 мм
◆ 1,5X ахроматический вспомогательный объект PS-W1.5, рабочее расстояние: 40 мм. (используется вместе с PS-WP1.0)
2,Тринукулярный разделитель лучей
◆ Пропорция пропускания света через окуляр тринокулярного разделителя луча PS-T: левый 100%, правый 0%
◆Расчет проницаемости света через окуляр: левый 50%, правый 50%
Что такое стереомикроскопы?
Стерео или стереоскопический - это вариант оптического микроскопа, предназначенный для наблюдения образца с низким увеличением,обычно используют свет, отражаемый от поверхности объекта, а не передаваемый через него.
Прибор использует два отдельных оптических пути с двумя объективами и окулярами, чтобы обеспечить слегка разные углы обзора левого и правого глаз.Это расположение дает трехмерную визуализацию исследуемого образца.
Стереомикроскопия перекрывает макрофотографию для записи и исследования твердых образцов с сложной поверхностной топографией, где для анализа деталей необходим трехмерный вид.
Стереомикроскоп часто используется для изучения поверхности твердых образцов или для выполнения тесных работ, таких как дисекция, микрохирургия, часовое производство, изготовление или инспекция платы.и поверхности переломов, как в фрактографии и судебной инженерииТаким образом, они широко используются в обрабатывающей промышленности для производства, инспекции и контроля качества.