увеличиванное стекло с разрешением 0,1 mm, увеличиванное стекло, испытательное оборудование IEC

увеличиванное стекло с разрешением 0,1 mm, увеличиванное стекло, испытательное оборудование IEC

Метод теста 8.5.5.2
Для защиты против влияний высокого отказа лампы давления, выполнен следующий тест следующим образом:
– собрания лампы рассматривали части MS3 во время замены поля испытаны отдельный от оборудования;
– собрания лампы только рассматривали части MS3 во время деятельности, могут быть испытаны отдельно, или как нормально установлены в оборудование, или оба.
Взрыв лампы простимулирован механическим ударом, генератором электронного ИМПа ульс или подобным методом. Лампа будет работать на по крайней мере минута 5 для того чтобы получить рабочие температуру и давление. Для того чтобы оценить результаты повреждения для потенциального размера зоны и частицы твердых частиц, оборудование или собрание лампы помещены на горизонтальной поверхности, и темная липкая циновка (или другой адекватный метод) адекватного размера для того чтобы захватить частицы помещены около сброса вытыхания оборудования. Отверстие оборудования будет ориентировано для того чтобы увеличить потенциал для частиц быть вытесненным из продукта горизонтально через темную липкую циновку.
После повреждения, стеклянные произведенные частицы измерены используя увеличиванную стеклянную часть с разрешением 0,1 mm. Тест будет проведен для того чтобы сымитировать рабочую позицию наихудшего случая определенную в инструкциях.