Посмотреть описание продукта
Название продукта
Атомно-силовой микроскоп базового типа - AtomExplorer
Введение в продукт
Атомно-силовой микроскоп базового типа AtomExplorer обеспечивает разрешение субнанометрового уровня для наблюдения за топографией и текстурой поверхности материала. Он захватывает тонкие структуры и мельчайшие детали на поверхностях материалов в масштабах от нанометров до микрометров, предоставляя подробную визуальную информацию о топографии поверхности материала, чипа и других образцов. Этот продукт также интегрирует микроскопию магнитных сил (MFM), микроскопию электростатических сил (EFM), микроскопию сил Кельвина (KFM) и атомно-силовую микроскопию (AFM). Он предлагает высокую стабильность, отличную расширяемость и услуги по настройке. Как высокоточный инструмент для характеристики топографии и устройство для высокомасштабных магнитных и электрических измерений, он предоставляет дополнительные возможности и поддержку для образования, научных исследований и промышленных исследований и разработок.
Производительность оборудования
| Элемент |
Детали |
| Размер образца |
Φ 25 мм |
| Метод сканирования |
XYZ трех-осевое сканирование всего образца |
| Диапазон сканирования |
100 μм×100 μм×10 μм / 30 μм×30 μм×5 μм |
| Уровень шума по оси Z |
0,04 нм |
| Технология защиты наконечника |
Режим безопасной вставки иглы |
| Точки выборки изображения |
32×32-4096×4096 |
| Режим работы |
Режим касания, контактный режим, режим подъема, режим фазовой визуализации |
| Многофункциональные измерения |
Микроскоп электростатических сил (EFM), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), микроскоп магнитных сил (MFM) |
